时间：1995-10-17 大小：KB 语言：简体中文 授权：免费下载 等级：
GB/T 15713-1995 锗单晶片 国家标准(GB) GB/T15713-1995 本标准规定了锗单晶切割片、研磨片和腐蚀片的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本标准适用于各种牌号的...
时间：1994-01-01 大小：KB 语言：简体中文 授权：免费下载 等级：
YS/T 222-1996 碲锭 有色金属行业标准(YS) YS/T222-1996
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时间：1993-03-20 大小：KB 语言：简体中文 授权：免费下载 等级：
GB/T 14264-1993 半导体材料术语 国家标准(GB) GB/T14264-1993 本标准规定了半导体材料及其生长工艺、加工、晶体缺陷和表面沾污等方面的主要术语和定义。本标准适用于素和化合物半导体材料。
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时间：1993-02-06 大小：KB 语言：简体中文 授权：免费下载 等级：
GB/T 14139-1993 硅外延片 国家标准(GB) GB/T14139-1993 本标准规定了硅外延片的产品分类、技术要求、试验方法和检验规则及标志、包装、运输、贮存。本标准适用于在N型硅抛光片衬底上生长的N型外...
时间：1993-02-06 大小：KB 语言：简体中文 授权：免费下载 等级：
GB/T 14140.1-1993 硅片直径测量方法 光学投影法 国家标准(GB) GB/T14140.1-1993 本标准规定了用光学投影仪测量硅片直径的方法。本标准适用于测量圆形硅片的直径。测量范围为声φ40～φ100mm本标...
时间：1993-02-06 大小：KB 语言：简体中文 授权：免费下载 等级：
GB/T 14140.2-1993 硅片直径测量方法 千分尺法 国家标准(GB) GB/T14140.2-1993
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时间：1993-01-02 大小：KB 语言：简体中文 授权：免费下载 等级：
GB/T 14844-1993 半导体材料牌号表示方法 国家标准(GB) GB/T14844-1993 本标准规定了半导体多晶、单晶、晶片和外延片产品牌号的表示方法。本标准适用于编制半导体材料的牌号。
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时间：1992-03-19 大小：KB 语言：简体中文 授权：免费下载 等级：
YS/T 43-1992 高纯砷 有色金属行业标准(YS) YS/T43-1992 本标准规定了高纯砷的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存。本标准适用于工业砷为原料，经升华、氯化、精馏...
时间：1992-03-09 大小：KB 语言：简体中文 授权：免费下载 等级：
YS/T 23-1992 硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法 有色金属行业标准(YS) YS/T23-1992 本标 准 规 定了根据堆垛层错尺寸测量硅处延层厚度的方法本标 准 适 用于在<111>,tloo>和(110)晶向的硅单晶衬...
时间：1992-03-09 大小：KB 语言：简体中文 授权：免费下载 等级：
YS/T 24-1992 外延钉缺陷的检验方法 有色金属行业标准(YS) YS/T24-1992 本标 准 规 定了外延钉缺陷的检验方法本标 准 适 用于任何直径与晶向的硅外延片上高度不小于4,u m 的钉缺陷存在与否的判断...