GB/T14146-1993 GB/T 14146-1993 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容--电压法
标准编号：GB/T 14146-1993 时间：1993-02-06 大小：KB 浏览次数：66 下载次数：13| 资料名称： | GB/T14146-1993 GB/T 14146-1993 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容--电压法 | |
| 标准类别： | 国家标准 | ||
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 文件类型： | .rar | ||
| 整理时间： | 1993-02-06 | ||
| 授权方式： | 免费下载 | ||
| 下载方式： | FTP下载 | ||
| 等 级： |  |
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| 标准状态： | （仅供参考） | ||
| 作废日期： | （仅供参考） | ||
| 实施日期： | 1993-10-01（仅供参考） | ||
| 浏览次数： | 66次 |
| 标准简介： | GB/T 14146-1993 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容--电压法 国家标准(GB) GB/T14146-1993 本标准规定了硅外延层载流子浓度汞探针电容—电压测量方法。本标准适用于同质的硅外延层载流子浓度测量。 标准压缩包解压密码：www.51zbz.com |
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| 标准编号： | GB/T 14146-1993 正在载入地址 | |
| 标准名称： | 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容--电压法 | |
| 英文名称： | Silicon epitaxial layers－Determination of carrier concentration－Mercury probe valtage-capacitance method（仅供参考） | |
| 替代情况： | （仅供参考） | |
| 采标情况： | DIN 50439-1982,REF（仅供参考） | |
| 发布部门： | 国家技术监督局（仅供参考） | |
| 页 数： | 平装16开， 页数：6， 字数：8千字（仅供参考） | |
| 首发日期： | 1993-02-06（仅供参考） | |
| 复审日期： | 2004-10-14（仅供参考） | |
| 提出单位： | （仅供参考） | |
| 归口单位： | 全国半导体材料和设备标准化技术委员会（仅供参考） | |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会（仅供参考） | |
| 起草单位： | 上海市有色金属总公司（仅供参考） | |
| 相关标准： | 无相关信息 | |
| 下载次数： | 13次 | |
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