GB/T1555-1997 GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
标准编号：GB/T 1555-1997 时间：1997-01-02 大小：KB 浏览次数：227 下载次数：78| 资料名称： | GB/T1555-1997 GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法 | |
| 标准类别： | 国家标准 | ||
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 文件类型： | .rar | ||
| 整理时间： | 1997-01-02 | ||
| 授权方式： | 免费下载 | ||
| 下载方式： | FTP下载 | ||
| 等 级： |  |
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| 标准状态： | （仅供参考） | ||
| 作废日期： | （仅供参考） | ||
| 实施日期： | 1998-08-01（仅供参考） | ||
| 浏览次数： | 227次 |
| 标准简介： | GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法 国家标准(GB) GB/T1555-1997 本标准规定了半导体单晶晶向X射线衍射定向和光图定向的方法。本标准适用于测定半导体单晶材料大致平行于低指数原子面的晶体的表面取向。 标准压缩包解压密码：www.51zbz.com |
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| 标准编号： | GB/T 1555-1997 正在载入地址 | |
| 标准名称： | 半导体单晶晶向测定方法 | |
| 英文名称： | Test methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal（仅供参考） | |
| 替代情况： | GB 1555-1979 GB 1556-1979 GB 5254-1985 GB 5255-1985 GB 8759-1988（仅供参考） | |
| 采标情况： | ＝ASTM F26-87a（仅供参考） | |
| 发布部门： | 国家技术监督局（仅供参考） | |
| 页 数： | 平装16开， 页数：8， 字数：12千字（仅供参考） | |
| 首发日期： | 1979-05-26（仅供参考） | |
| 复审日期： | 2004-10-14（仅供参考） | |
| 提出单位： | （仅供参考） | |
| 归口单位： | 全国半导体材料和设备标准化技术委员会（仅供参考） | |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会（仅供参考） | |
| 起草单位： | 峨嵋半导体材料厂（仅供参考） | |
| 相关标准： | 无相关信息 | |
| 下载次数： | 78次 | |
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