GB/T17473.1-1998 GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
标准编号：GB/T 17473.1-1998 时间：1998-08-19 大小：KB 浏览次数：115 下载次数：34| 资料名称： | GB/T17473.1-1998 GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定 | |
| 标准类别： | 国家标准 | ||
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 文件类型： | .rar | ||
| 整理时间： | 1998-08-19 | ||
| 授权方式： | 免费下载 | ||
| 下载方式： | FTP下载 | ||
| 等 级： |  |
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| 标准状态： | 已作废（仅供参考） | ||
| 作废日期： | 2008-09-01（仅供参考） | ||
| 实施日期： | 1999-03-01（仅供参考） | ||
| 浏览次数： | 115次 |
| 标准简介： | GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定 国家标准(GB) GB/T17473.1-1998 本标准规定了贵金属浆料中固体含量的测试方法。本标准适用于各种贵金属浆料中固体含量的测定。非贵金属浆料中固体含量的测定亦可参照使用。 标准压缩包解压密码：www.51zbz.com |
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| 标准编号： | GB/T 17473.1-1998 正在载入地址 | |
| 标准名称： | 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定 | |
| 英文名称： | Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of solids content（仅供参考） | |
| 替代情况： | 被GB/T 17473.1-2008代替（仅供参考） | |
| 采标情况： | ≈ASTM F66-84 ≈ASTM D2369-95 ≈ASTM D4713-92（仅供参考） | |
| 发布部门： | 国家质量技术监督局（仅供参考） | |
| 页 数： | 平装16开， 页数：5， 字数：5千字（仅供参考） | |
| 首发日期： | 1998-08-19（仅供参考） | |
| 复审日期： | 2004-10-14（仅供参考） | |
| 提出单位： | （仅供参考） | |
| 归口单位： | 全国有色金属标准化技术委员会（仅供参考） | |
| 主管部门： | 中国有色金属工业协会（仅供参考） | |
| 起草单位： | 昆明贵金属研究所（仅供参考） | |
| 相关标准： |
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| 下载次数： | 34次 | |
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