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SJ 2214.10-1982 半导体光敏二、三极管光电流的测试方法 电子行业标准(SJ) SJ2214.10-1982
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SJ 2215.1-1982 半导体光耦合器测试方法总则 电子行业标准(SJ) SJ2215.1-1982
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SJ 2215.2-1982 半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法 电子行业标准(SJ) SJ2215.2-1982
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SJ 2215.3-1982 半导体光耦合器（二极管）正向电流的测试方法 电子行业标准(SJ) SJ2215.3-1982
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SJ 2215.4-1982 半导体光耦合器（二极管）反向电流的测试方法 电子行业标准(SJ) SJ2215.4-1982
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SJ 2215.5-1982 半导体光耦合器（二极管）反向击穿电压的测试方法 电子行业标准(SJ) SJ2215.5-1982
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SJ 2215.6-1982 半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法 电子行业标准(SJ) SJ2215.6-1982
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SJ 2215.7-1982 半导体光耦合器集电极－发射极反向击穿电压的测试方法 电子行业标准(SJ) SJ2215.7-1982
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SJ 2215.8-1982 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法 电子行业标准(SJ) SJ2215.8-1982
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SJ 2215.9-1982 半导体光耦合器（三极管）反向截止电流的测试方法 电子行业标准(SJ) SJ2215.9-1982
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