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SJ 2354.9-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法 电子行业标准(SJ) SJ2354.9-1983
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SJ 2354.10-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法 电子行业标准(SJ) SJ2354.10-1983
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SJ 2354.11-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵音区宽度的测试方法 电子行业标准(SJ) SJ2354.11-1983
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SJ 2354.12-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法 电子行业标准(SJ) SJ2354.12-1983
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SJ 2354.13-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法 电子行业标准(SJ) SJ2354.13-1983
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SJ 2354.14-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法 电子行业标准(SJ) SJ2354.14-1983
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SJ 2355.1-1983 半导体发光器件测试方法 总则 电子行业标准(SJ) SJ2355.1-1983
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SJ 2355.3-1983 半导体发光器件测试方法 反向电流的测试方法 电子行业标准(SJ) SJ2355.3-1983
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SJ 2355.4-1983 半导体发光器件测试方法 结电容的测试方法 电子行业标准(SJ) SJ2355.4-1983
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SJ 2355.5-1983 半导体发光器件测试方法 法向光强和半强度角的测试方法 电子行业标准(SJ) SJ2355.5-1983
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